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电子显微镜定量分析相差系统
 Quantitative  Phase  Electron  Microscope
　 　 　 　

IATAI 公司的QPe透射电子显微镜定量分析相差系统是实现电子显微镜相差成像的数字化的解决方法，利用专利的相差显像定量析平台技术，让您轻易地得到全方位各种相差成像模式如：

 　
　

　

　
霍夫曼调制相衬（HMC） 　 微分干涉（DIC）
ZERNIKE相差（ZPC） 　 Enhanced ZPC相差
DIC (使用暗背景) 　 QPI(相位图像)
　 　 　 　 　
　

这些成像模式是目前电子显微镜不可能得到的，并能做定量分析 　
　 　 　 　
　 　
　 　 　 　
　 　 　 　
　

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